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WGJSTD-B/B1型介質損耗及介電常數測試儀

高頻介質損耗測試系統由S916測試裝置(夾具)、WGJSTD-B/B1型介質損耗及介電常數測試儀、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入WGJSTD-B或B1、及LKI-1型電感器組成,它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的Z佳解決方案。

  • 更新時間:2024-05-05
  • 瀏覽次數:992
  • 廠商性質:生產廠家
  • 產   地:上海寶山
產品詳細介紹

 

詳細介紹

1、《S916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統的核心檢測部件,它由一個LCD數字顯示的微測量裝置和一對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化,測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。S916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新換代產品,精密的加工設計、的LCD數字讀出、一鍵式清零功能,克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。

2、基于串聯諧振原理的《WGJSTD-B/B1介質損耗及介電常數儀》是測試系統的二次儀表,其數碼化主調電容器的創新設計代表了行業的zui高成就,隨之帶來了頻率、電容雙掃描(B1)的全新搜索功能。該表具有*人機界面,采用LCD液晶屏顯示各測量因子:Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH200KHz-160MHz,頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε),把被測材料作為平板電容的介質,與輔助電感等構成串聯諧振因子引入Q表的測試回路,以獲取zui高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態下的特征。

     WGJSTD-B/B1介質損耗及介電常數儀的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ,無須關注量程和換算,*摒棄了傳統Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。

 3、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入WGJSTD-BB1),實現了數據采集、數據分析和計算的微處理化,tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理,因而提高了數據的度和測量的同一性,是人工讀值和人工計算*的。

   4、一個高品質因數(Q)的電感器是測量系統*的輔助工具,關乎測試的靈敏度和精度,在系統中它與平板電容(S916)構成了基于串聯諧振的測試回路。本系統推薦的電感器為LKI-1電感組,共由9個高性能電感器組成,以適配不同的檢測頻率。


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